Lodovico

Sistema Raman in configurazione Backscattering

Abstract: in questo post descriviamo la costruzione di un sistema Raman DIY, in configurazione backscattering, basato su di un laser DPSS che emette a 532 nm e su di uno spetttrometro di surplus B&W Tek. Il sistema è equipaggiato con fibra ottica e filtri sharp-edge per il blocco della radiazione laser di eccitazione.

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Sistema Raman DIY

Abstract: in questo post descriviamo la costruzione di un sistema Raman DIY, basato su di un laser DPSS a 532 nm e su di uno spetttrometro di surplus B&W Tek. Per la raccolta della luce diffusa è stata scelta una configurazione a 90°, particolarmente adatta per l'analisi di campioni liquidi. Il sistema è equipaggiato con fibra ottica e filtri sharp-edge per il filtraggio della radiazione laser di eccitazione. Il sistema è stato utilizzato per l'acquisizione degli spettri Raman di numerose sostanze organiche ed inorganiche.

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Photosynthesis Pigments Spectroscopy

Abstract: in this post we describe the application of the SMA Thunder Optics spectrometer and the Spectragryph software to the spectroscopic analysis of the pigments responsible for the photosynthetic process, pigments found in all plant organisms (plants and algae).

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Spettroscopia dei Pigmenti della Fotosintesi

Abstract: in questo post descriviamo l'applicazione dello spettrometro SMA Thunder Optics e del software Spectragryph alla analisi spettroscopica dei pigmenti responsabili del processo fotosintetico che si trovano negli organismi vegetali (piante e alghe). 

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Riflettometria su Film Sottile

Abstract: in questo post descriviamo l'applicazione dello spettrometro e del software Spectragryph nelle misure di riflettometria di film sottili. La luce riflessa dalle pellicole sottili, in determinate condizioni, presenta il fenomeno della interferenza. Questo fenomeno fisico può essere utilizzato per studiare le proprietà ottiche del film sottile e per misurare il suo spessore. 

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Thin Film Reflectometry

Abstract: in this post we describe the application of the spectrometer and the Spectragryph software in the reflectometry measurements of thin films. The light reflected by thin films, under certain conditions, presents the phenomenon of interference. This physical phenomenon can be used to study the optical properties of the thin film and to measure its thickness.

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